Co-Registered VNIR-SWIR全波段高光谱成像光谱仪
特点:
Co-Registered HyperspecVNIR-SWIR高光谱成像仪大的特点是VNIR和SWIR两个光谱仪
看到的是同一光路视场,没有视差差异
二者图像数据由Headwall技术做了像素结合,VNIR和SWIR数据通过calibration模块后处
理得到一个datacube, 图像和光谱数据准度大为提高
同时整个机箱集成了2个光谱仪和数据采控系统,集成度高
适用于机载遥感、农业、土壤监测、矿物分析、采矿探矿、环境监测、石油和管线设
备管理等应用。
基本参数:
光谱仪设计 | 高通量同心成像 | |
光谱范围(nm) | 400-2500 | |
光谱分辨率(FWHM)(nm) | 5 | 10/8 |
光谱通道 | 369 | 166/267 |
空间像素 | 1600 VNIR | 384/640 SWIR |
重量 | 11.3kg |
全波段高光谱成像光谱仪是一种利用高光谱成像技术的仪器,这种设备将成像技术与光谱技术相结合,探测目标的二维几何空间及一维光谱信息,获取高光谱分辨率的连续、窄波段的图像数据。目前凭借探测能力强、识别能力高的特点,高光谱成像光谱仪在食品安全、医学诊断、航天领域都有较为广泛的运用。
高光谱成像技术是近20年间兴起的一种无损检测技术,主要融合了光学、电子学、数字图像信息处理及计算机科学等技术。
按照高光谱成像扫描方式的不同可将其分为点扫描式高光谱成像系统、线扫描式高光谱成像系统及区域扫描式高光谱成像系统3种,其中线扫描式(推扫式扫描)为常用的一种方式。
高光谱成像系统主要由光源、光源分散装置、成像高光谱仪(核心的部件)、电荷耦合装置相机、光学镜头、数据采集卡、电荷耦合器件、图像采集系统和计算机等软件、硬件组成,其分辨率在Δλ/λ=0.01数量级,检测波长为400~2500nm,主要包括紫外区到近红外区甚至更远的区域。
高光谱成像技术的检测过程主要是通过图像尺寸大小调整、采集图像、建立掩膜、图像分割、感兴趣区域选择、噪声处理(中值滤波平滑处理、
多元散射校正、标准正态变量校正、卷积平滑处理、去趋势算法和傅里叶变换等)、
感兴趣区降维处理(主成分分析法、独立元分析法及线性判别分析法等)、
提取特征波长(竞争性自适应重加权算法、连续投影算法、遗传算法和无信息变量消除法
及建立判别模型(多元线性回归法、偏最小二乘法、BP神经网络法和支持向量机等方式完成的