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全波段高光谱成像光谱仪

发布时间:  2020-04-27

产品型号:  

所  在  地:  北京市朝阳区酒仙桥东路1号M7栋东5层

产品特点:  全波段高光谱成像光谱仪具有共记录特性的像素,在400到2500纳米的光谱波段展现出优越的光谱和空间分辨率性能。

(联系我时,请说明是在化工仪器网上看到的信息,谢谢!)
产品概述

全波段高光谱成像光谱仪具有共记录特性的像素,在400到2500纳米的光谱波段展现出优越的光谱和空间分辨率性能。

作为光学产业中应用广泛的传感器,Headwall 公司的同轴成像传感器采用该公司的色差校正系统,具有高的光谱和空间分辨率,同时具有可重复性的精度。通过特殊设计和制造的衍射系统,Headwall公司的高光谱仪可以消除因杂散光和温度变异而产生的色差。除了这种的色差校正技术,高光谱仪还具有非常宽的视野和非常高的信噪比。

Headwall公司高光谱仪的共记录像素数据通过将VNIR和SWIR光谱范围的高衍射性进行联合,再结合电子系统非常高的量子效率,可产生优异的成像性能,达到行业中非常高的信噪比值。

 VNIR检测器采用定制的 sCMOS焦平面阵列技术,SWIR检测器应用Stirling冷却优化的MCT阵列。Headwall公司的共记录VNIR-SWIR检测系统大小约379mm × 364mm × 198mm,重约11.3 公斤,整个箱体中包含两个探测器和一个数据处理系统,这样大小和重量的系统十分适合野外地面应用或者在大型无人机或有人机等高空平台上。
通过建立高光谱的基准数据和合适的性能指标, Headwall公司的共记录像素特性的VNIR-SWIR检测器为地面和空中遥感提供良好解决方法。

在高光谱测量的基础上,具有图谱合一的优势,可以到叶片一个点去探测作物不同胁迫症状的特征,又可获取受胁迫作物面状的光谱信息,点面结合综合地反映作物遭受胁迫的程度。所以,成像高光谱已经成为国内外研究的热点,学者们利用高光谱成像技术定量化地提取作物所遭受的各种胁迫特征,根据高分辨率的图像对叶片及叶片的局部区域进行分析,从而在更加微观的尺度上进行机理探测研究。


全波段高光谱成像光谱仪核心优势
全反射光学设计
采用原始刻划光栅
宽波段覆盖400-2500nm
一个数据立方体中共记录370个像元
适合地面或有人机机载使用
高光谱&空间分辨率
宽视场
像差校正,信噪比高
体积:363×379×198mm
重量:11.3Kg

 

应用:
机载遥感
精准农业
土壤监测
矿物分析、采矿探矿
环境监测
石油和管线设备管理

 

 

全波段高光谱成像光谱仪技术参数:

Co Registered Hyperspec® VNIR-SWIR

光谱仪设计

高通量同心成像

波段范围

400-2500nm

空间像素

1600(VNIR)

384 (SWIR)

共记录空间像素

370(VNIR/SWIR)

光谱通道

369

166

狭缝宽度(um)

20

色散/像元

(nm/像元)

1.6

10.8

光谱分辨率

(FWHM)

5nm

10nm

通光孔径

F/2.5

视场角

20.88°(25mm)

23.5(25mm)

探测器

Scientific-CMOS 

Stirling制冷MCT

A/D

16 bit

帧频(Hz)

193.4

功率

111W

尺寸

379mm×364mm×198mm

重量

11.3Kg

相机接口

Full Camera-link(80-bit)

数据传输

Gig-E 或USB3.0

 

VNIR和SWIR成像数据

厂家保留未经预先通知即行修改所有规格和参数的权力,具体的规格以即时报价单中给出的为准


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